內(nèi)存測(cè)試軟件PassMark MemTest86

MemTest86是一款功能強(qiáng)大的內(nèi)存測(cè)試軟件，你可以通過(guò)這款軟件來(lái)測(cè)試電腦內(nèi)存的穩(wěn)定性和存儲(chǔ)大小，memtest86具有操作簡(jiǎn)單、安全可靠、綠色無(wú)毒等優(yōu)點(diǎn)，不僅對(duì)內(nèi)存大小無(wú)任何的限制，而且測(cè)試的準(zhǔn)確度也是非常的高，同時(shí)對(duì)用戶的內(nèi)存文件沒(méi)有絲毫的影響，是一款用戶值得信賴的內(nèi)存檢測(cè)神器。

主要功能：

 -  13種不同的RAM測(cè)試算法

 -  DDR4 RAM（和DDR2和DDR3）支持

 -  XMP  - 高性能內(nèi)存配置文件

 -  UEFI  -  BIOS的新圖形標(biāo)準(zhǔn)

 -  64位 - 從版本5開(kāi)始，MemTest86是本機(jī)64位代碼

 -  ECC RAM  - 支持糾錯(cuò)碼RAM

 - 安全啟動(dòng) -  MemTest86由Microsoft簽署代碼

 - 圖形界面，鼠標(biāo)支持和將結(jié)果記錄到磁盤(pán)

 - 外語(yǔ)支持（中文，德文及更多）

 - 自助啟動(dòng)USB或CD，無(wú)需DOS，Linux和Windows

 - 網(wǎng)絡(luò)（PXE）啟動(dòng) - 來(lái)自單個(gè)PXE服務(wù)器的可擴(kuò)展，無(wú)磁盤(pán)配置

 - 雙啟動(dòng) - 將從單個(gè)閃存驅(qū)動(dòng)器啟動(dòng)到BIOS中的V4和UEFI中的V7

使用方法：

制作好軟盤(pán)后，我們用這張盤(pán)來(lái)啟動(dòng)電腦�烳emtest86會(huì)自動(dòng)開(kāi)始測(cè)試內(nèi)存，其測(cè)試界面如圖1所示。在紅色顯示的“Memtest-86 v3.0”程序版本號(hào)下，我們可以看到當(dāng)前系統(tǒng)所采用的處理器型號(hào)和頻率，以及CPU的一級(jí)緩存和二級(jí)緩存的大小及速度，當(dāng)然也包括測(cè)試的主角——系統(tǒng)物理內(nèi)存的容量和速度。最后顯示的是主板所采用的芯片組類型。通過(guò)這些信息我們可以對(duì)系統(tǒng)的主要配置有個(gè)大致的了解  

在系統(tǒng)信息的右側(cè)顯示的是測(cè)試的進(jìn)度，“Pass”顯示的是主測(cè)試進(jìn)程完成進(jìn)度，“Test”顯示的是當(dāng)前測(cè)試項(xiàng)目的完成進(jìn)度。“Test #1”顯示的是目前的測(cè)試項(xiàng)目。  

下方的“WallTime”顯示測(cè)試已經(jīng)耗費(fèi)的時(shí)間，在這一排數(shù)據(jù)中“ECC”一欄中，顯示的是當(dāng)前內(nèi)存是否支持打開(kāi)ECC校驗(yàn)功能，“TEST”顯示的是測(cè)試的模式，有“標(biāo)準(zhǔn)”和“完全”模式可供選擇。“Pass”顯示的是內(nèi)存測(cè)試所完成的次數(shù)，Memtest86的測(cè)試是無(wú)限制循環(huán)的，除非你結(jié)束測(cè)試程序，否則它將一直測(cè)試下去。另外Memtest86的測(cè)試比較耗費(fèi)時(shí)間，標(biāo)準(zhǔn)的測(cè)試模式跑一遍大概需要個(gè)把小時(shí)，如果是完全測(cè)試的話則需要幾個(gè)小時(shí)（和內(nèi)存容量有關(guān)）。 

要進(jìn)行完全測(cè)試，我們可以單擊“C”鍵打開(kāi)Memtest86的設(shè)置菜單，接著單擊數(shù)字鍵“2”選擇“Test Selection”選項(xiàng)（注意從主鍵盤(pán)輸入數(shù)字），再單擊數(shù)字鍵“3”選擇“All Test”選項(xiàng)打開(kāi)完全測(cè)試模式（圖2）。利用這個(gè)設(shè)置菜單，我們還可以進(jìn)行更多的設(shè)置，比如設(shè)置測(cè)試的Cache大小、重新開(kāi)始測(cè)試等等。 

開(kāi)始測(cè)試后，主要的內(nèi)存突發(fā)問(wèn)題（比如“死亡”位）將在幾秒鐘內(nèi)檢測(cè)出來(lái)，如果是由特定位模式觸發(fā)的故障，則需要長(zhǎng)時(shí)間測(cè)試才能檢測(cè)出來(lái)，對(duì)此需要有耐心。Memtest86一檢測(cè)到缺陷位，就會(huì)在屏幕底部顯示一條出錯(cuò)消息，但是測(cè)試還將繼續(xù)下去。如果完成幾遍測(cè)試后，沒(méi)有任何錯(cuò)誤信息，那么我們可以確定內(nèi)存是穩(wěn)定可靠的。如果檢測(cè)出現(xiàn)問(wèn)題，你可以試著降低BIOS中內(nèi)存參數(shù)的選項(xiàng)值，如將內(nèi)存CAS延遲時(shí)間設(shè)置為3等，再進(jìn)行測(cè)試，這樣可能會(huì)避免錯(cuò)誤的出現(xiàn)，讓內(nèi)存運(yùn)行時(shí)保持穩(wěn)定。  

最后值得注意的是如果你的系統(tǒng)有多根內(nèi)存條（相信現(xiàn)在大家的機(jī)器里都插著幾根吧），那么就需要單獨(dú)測(cè)試每一根內(nèi)存，這樣才能分清到底是哪根內(nèi)存出錯(cuò)。其實(shí)Memtest86測(cè)試內(nèi)存并不僅僅局限在測(cè)試內(nèi)存的好壞上，用它的完全測(cè)試模式跑幾遍，還能檢測(cè)內(nèi)存和系統(tǒng)的穩(wěn)定性。所以如果你的系統(tǒng)經(jīng)常遇到本文開(kāi)頭所述的那些問(wèn)題，那么不妨用Memtest86測(cè)試一下你的內(nèi)存。