硬盤驗(yàn)證器

硬盤驗(yàn)證器是一款非常實(shí)用的硬盤檢驗(yàn)工具，它可以智能檢測(cè)出硬盤驅(qū)動(dòng)器的壞扇區(qū)，有讀取+擦除損壞+讀取等高級(jí)測(cè)試模式，幫助大家修復(fù)硬盤扇區(qū)損壞問(wèn)題，可以有效保障硬盤的穩(wěn)定工作，有需要的朋友歡迎使用。

軟件功能：

硬盤驗(yàn)證器提供有關(guān)壞扇區(qū)的詳細(xì)信息，以便您可以嘗試修復(fù)它們。您的硬盤驅(qū)動(dòng)器是以塊為單位（扇區(qū)）寫入數(shù)據(jù)，在每次硬盤驅(qū)動(dòng)器更新扇區(qū)時(shí)，它還將在更新扇區(qū)數(shù)據(jù)后立即存儲(chǔ)校驗(yàn)和。當(dāng)從硬盤驅(qū)動(dòng)器讀取扇區(qū)時(shí)，扇區(qū)校驗(yàn)和應(yīng)與扇區(qū)數(shù)據(jù)匹配。如果校驗(yàn)和不匹配，硬盤會(huì)在寫入操作期間識(shí)別為出現(xiàn)問(wèn)題 – 該事件稱為壞扇區(qū)。在寫入操作或硬盤驅(qū)動(dòng)器故障期間，出現(xiàn)壞扇區(qū)的原因有很多，如電源故障等。

硬盤驗(yàn)證器為您提供了一種查看是否存在壞扇區(qū)的方法，因此您可以通過(guò)覆蓋它來(lái)清除所謂的壞扇區(qū)。如果出現(xiàn)了因?yàn)殡娫垂收蠈?dǎo)致的壞扇區(qū)，則“讀取 + 擦除損壞 + 讀取”測(cè)試將是清除壞扇區(qū)的最快方法。如果因?yàn)轵?qū)動(dòng)器出現(xiàn)問(wèn)題導(dǎo)致的壞扇區(qū)，則應(yīng)在備份數(shù)據(jù)后選擇“寫入 + 驗(yàn)證”測(cè)試。注意，此測(cè)試將清除磁盤上的所有數(shù)據(jù)，請(qǐng)慎重使用。

所有測(cè)試都會(huì)形成日志，您可復(fù)制后供日后使用。

測(cè)試模式簡(jiǎn)介：

讀取：將掃描整個(gè)硬盤驅(qū)動(dòng)器表面以查找壞扇區(qū)。

讀取 + 擦除損壞 + 讀取：將掃描整個(gè)硬盤驅(qū)動(dòng)器表面以查找壞扇區(qū)，如果發(fā)現(xiàn)壞扇區(qū)，將覆蓋它們，并再次讀取以確保寫入成功。

讀取 + 寫入 + 驗(yàn)證 + 恢復(fù)：程序?qū)⑾虼疟P寫入測(cè)試模式，驗(yàn)證模式是否已成功寫入，然后還原原始數(shù)據(jù)。

寫入 + 驗(yàn)證：程序?qū)⑾虼疟P寫入測(cè)試模式并驗(yàn)證模式是否已成功寫入（慎用，原始數(shù)據(jù)將會(huì)丟失）。